当前位置：北京百川宏宇交通设施有限公司四探针电阻率测试仪BCD-310四探针电阻率测试仪（单电）
四探针电阻率测试仪（单电）本仪器配置各类测量装置能测试不一样的材料之电导率。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电导率单位自动选择，BCD-310 材料电导率测试仪自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成图表和报表。
概述：采用四端测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，实验室；是检验和分析导体材料与半导体材料的品质的工具。可配置不同测量装置测试不一样材料之电阻率。液晶显示，温度补偿功能，自动量程，自动测量电阻，电阻率，电导率数据。恒流源输出；选配：PC软件过程数据处理和标准电阻校准仪器，薄膜按键简单易操作，中文或英文两种语言界面选择，电位差计和电流计或数字电压表，量程为1mV¯100mV,分辨率为0.1%，直流输入阻抗不小250μm的半球形或半径为50 μm~125 μm的平的圆截面。探针(带有弹簧及外引线)之间或探针系统别的部分之间的绝缘电照至少为10°Ω.探针排列和间距，四探针应以等距离直线排列，探针阀距及针突状况应符合GB/T 552 中的规定。R=1(R +R, )(3)R2=与(R; +R，)计算试样平均直径D与平均操针间距S之比，由表3中查出修正因子F，也可以见GB/T11073中规定的几何修正因子。 9.4计算几何修正因子F，见式(4)。对于薄层厚度小于3μm的试样，选用针尖半径为100μm250μm的半球形探针或针尖率径为50μm~125 pm平头探针，针尖与试样间压力为0.3 N¯0.8Ni对于薄层厚度不小于3μ的试样，选用针尖半径为35μm100 pm 半球形操针，针尖与试样间压力不大于 0.3 N.Rr=V; R,/V=V/I, R,=V,R,/V_=V,/I,-双刀双撑电位选择开关。.定。欧娇表，能指示阻值高达10°日的漏电阻，温度针0℃-40℃，小刻度为0.1℃。光照、高频、需动、强电磁场及温醒度等测试环境会影响测试结果，甲醇、99.5%，干燥氮气。测量仪器探针系统操针为具有45~150°角的圆罐形破化鸭振针，针实半径分别为35μm~100μm.100 μm (5)电压表输入阻抗会引入测试误差，硅片几何形状，表面粘污等会影响测试结果，R(TD-R_xF式中:计算每一测量位置的平均电阻R.，见式(3).试剂优级纯，纯水，25℃时电阻率大于2MN.cm,s=号(二[R，(TD-瓦(7D羽yt ..计算每一测量位置在所测温度时的薄层电阻(可根据薄层电阻计算出对应的电阻率并修正到23℃，具体见表4)见式(5).用干净涂题颗子或吸笔将试样置于样品台上，试样放置的时间应足够长，到达热平衡时，试样温度为23 ℃1℃.接通电流，令其任一方向为正向，调节电流的大小见表1测量范围电阻率：1×10-4～2×105Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102Ω-cm方 阻：5×10-4～2×105Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102Ω/□电 阻：1×10-5～2×105Ω ，分辨率：1×10-6～1×102Ω 材料尺寸(由选配测试台决定和测试方式决定)直 径：A圆测试台直接测试方式 15～130mm，方测试台直接测试方式180mm×180mm， 长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm, 测量方位: 轴向、径向均可
所给出的某一合适值，测量并记录所得数据，所有测试数据至少应取三位有效数字。改变电流方向，测量、记录数据。关断电流，抢起探针装置，对仲裁测量，探针间距为1.59
液晶显示：电阻值、电阻率、电导率值、温度、单位自动换算、横截面、高度、电流、电压等
1.标准校准电阻1-5个；2.PC软件一套；3.电脑和打印机依照客户要求配置；4.计量证书1份
以上信息由企业自行提供，内容信息的真实性、准确性和合法性由相关企业负责，机床商务网对此不承担任何保证责任。
温馨提示：为规避购买风险，建议您在买产品前务必确认供应商资质及产品质量。
